北京波威代理的美國Alluxa是ITAR注冊的高性能光學(xué)濾光片和薄膜涂層制造商。自2007年以來，Alluxa迅速成長為精密薄膜的世界領(lǐng)導(dǎo)者。Alluxa的工程團(tuán)隊(duì)通過完善先進(jìn)的SIRRUS?等離子沉積工藝，設(shè)計(jì)和制造鍍膜設(shè)備以及為研發(fā)投入大量資源。

ULTRA系列→ 
Alluxa ULTRA系列濾光片和薄膜涂層的設(shè)計(jì)充分考慮了應(yīng)用和系統(tǒng)要求。它們均經(jīng)過嚴(yán)格測試，以確保每種濾光片類型均具有最高的性能和質(zhì)量，并且所有的設(shè)計(jì)和規(guī)格均超過了市場上任何同類濾光片的性能。

超窄→ 
Alluxa是超窄帶濾波器的全球領(lǐng)導(dǎo)者。其超窄帶通濾波器在實(shí)現(xiàn)超過90％的傳輸率以及亞納米級帶寬，寬范圍帶外截止強(qiáng)度和邊緣陡峭度方面一直沒有受到挑戰(zhàn)。

定制涂料→ 
Alluxa的工程團(tuán)隊(duì)將與您合作，為您的OEM系統(tǒng)設(shè)計(jì)定制的光學(xué)濾波器和薄膜涂層。即使您的要求天生具有挑戰(zhàn)性，我們也會不斷突破當(dāng)前設(shè)計(jì)技術(shù)和涂層工藝的界限，以滿足您系統(tǒng)的要求。

設(shè)計(jì)專長

生產(chǎn)能夠優(yōu)化系統(tǒng)性能的光學(xué)濾光片或薄膜涂層是我們設(shè)計(jì)工程師的首要任務(wù)。我們的設(shè)計(jì)人員在考慮到制造公差和工作溫度的情況下，精心確保在指定的AOI范圍和光束錐角范圍內(nèi)滿足所有要求。他們精通各種涂料和設(shè)計(jì)技術(shù)，包括我們團(tuán)隊(duì)率先采用的幾種創(chuàng)新技術(shù)。設(shè)計(jì)人員將為每個(gè)濾光片選擇最合適的材料和設(shè)計(jì)技術(shù)，以實(shí)現(xiàn)最佳性能。

精密鍍膜工藝

我們的SIRRUS等離子沉積工藝使我們能夠?qū)崿F(xiàn)精確的波長控制和均勻的涂層，即使對于大幅面零件也是如此。我們的機(jī)械和電氣工程師已經(jīng)設(shè)計(jì)并建造了我們所有的涂層室，我們的物理學(xué)家和軟件工程師創(chuàng)建了復(fù)雜的薄膜涂層工藝，能夠?qū)崟r(shí)自動(dòng)調(diào)整層的厚度和均勻性。
與標(biāo)準(zhǔn)涂層方法相比，我們的創(chuàng)新工藝還使我們能夠在短時(shí)間內(nèi)生產(chǎn)出薄膜涂層，從而為客戶降低了成本。

高級計(jì)量學(xué)

鍍膜后，Alluxa濾光片的性能將使用最先進(jìn)的儀器進(jìn)行測試。使用市場上最先進(jìn)的分光光度計(jì)之一來測量UV，VIS和NIR中的濾光片透射和截止，而我們的IR濾光片則使用FTIR分光計(jì)來測量。
我們的最高性能濾光片使用我們的工程團(tuán)隊(duì)開發(fā)的創(chuàng)新HELIX光譜分析系統(tǒng)進(jìn)行評估。HELIX系統(tǒng)能夠?qū)V光片邊緣追蹤到OD7，測量超出OD8的截止，并解決異常陡峭的邊緣。
此外，使用Zygo干涉儀測試表面圖形和平面度規(guī)格，并使用Keyence測微儀將機(jī)械尺寸測量至最接近的微米。

可靠性和重復(fù)性

由于我們所有的鍍膜室都在使用SIRRUS等離子沉積工藝，因此我們能夠在多個(gè)鍍膜過程中和在多個(gè)鍍膜室中可靠，重復(fù)地生產(chǎn)相同的高性能光學(xué)濾光片，從而在整個(gè)系統(tǒng)中實(shí)現(xiàn)一致的性能。

研究與開發(fā)

除了由我們的工程師帶頭進(jìn)行的眾多正在進(jìn)行的研發(fā)項(xiàng)目外，我們始終渴望創(chuàng)建既能滿足獨(dú)特客戶需求又能擴(kuò)展我們現(xiàn)有能力的新技術(shù)。最近的一些以客戶為導(dǎo)向的研發(fā)項(xiàng)目使我們能夠?qū)⑼繉幽芰U(kuò)展到中波和遠(yuǎn)紅外，而另一些則使我們能夠在紫外線下實(shí)現(xiàn)高透射率，用于大幅面零件的高度均勻的涂層以及新穎的涂層工藝。各種材料和基材。